• MX-1100纸张测厚仪

    详细信息

    国Oakland公司生产的多功能自动薄膜和纸张测厚仪MX-1100,既可单独使用,也可以和电脑连接。可选配质量控制软件(Quality Control Software),以用于测量结果的分析和统计
     

     

     

    ■操作简单 三种操作模式:手动,数字和软件。可外接打印机或第三方软件以显示分析图表和统计值。
    ■提供离散点测量和厚度轮廓测量 测头可自动升降。
    ■丰富的扩展功能 可外接打印机,电脑和*软件。

     


    塑料薄膜和纸张测厚仪MX-1100技术参数和规格

    详细参数
    可测样品 所有的薄膜和薄片材料
    测量范围 0 - 50mil,0 - 100mil,0 - 200mil,0 - 300mil 或0 - 1270um,0 - 2540um,0 - 5080um,0 - 7620um 或0 - 1.3mm,0 - 2.5mm,0 - 5.0mm,0 - 7.5mm 或其他测量范围 当订购公制单位时,请指定um或mm显示
    行程(探头缩回高度) 对应的测量范围加1270um - 2540um 分辨率:0.01mil或0.1um或0.001mm,量程在0 - 200mil时; 0.1mil或1um或0.001mm,量程在0 - 300mil时。
    精度 +/-0.02mil或+/-0.5um或+/-0.0005mm
    平行度 +/-1.0um或更好
    测头尺寸 直径4.3mm(薄膜)
    直径15.9mm(纸张)
    或针对其他材料的其他尺寸
    测头压力 4.0 - 8.0psi(0.562kg/cm²),薄膜
    7.3psi(0.513kg/cm²),纸张
    或针对其他材料的其他设置
    循环速率 20/分钟(40/分钟,可选),薄膜
    20/分钟(12/分钟,可选),纸张
    或针对其他材料的其他设置
    下落速率 1mm/sec,纸张
    仪器尺寸(宽x长x高) 25 x 25 x 28 cm
    标准配置 主机,标准厚度片,脚踏开关
    选配件 打印机,质量控制软件(Quality Control Software)
    符合标准 ASTM D 374,TAPPI T-411,BS 2782-6,Din 53370
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