- MX-1100纸张测厚仪
详细信息
国Oakland公司生产的多功能自动薄膜和纸张测厚仪MX-1100,既可单独使用,也可以和电脑连接。可选配质量控制软件(Quality Control Software),以用于测量结果的分析和统计
■操作简单 三种操作模式:手动,数字和软件。可外接打印机或第三方软件以显示分析图表和统计值。
■提供离散点测量和厚度轮廓测量 测头可自动升降。
■丰富的扩展功能 可外接打印机,电脑和*软件。
塑料薄膜和纸张测厚仪MX-1100技术参数和规格详细参数 可测样品 所有的薄膜和薄片材料 测量范围 0 - 50mil,0 - 100mil,0 - 200mil,0 - 300mil 或0 - 1270um,0 - 2540um,0 - 5080um,0 - 7620um 或0 - 1.3mm,0 - 2.5mm,0 - 5.0mm,0 - 7.5mm 或其他测量范围 当订购公制单位时,请指定um或mm显示 行程(探头缩回高度) 对应的测量范围加1270um - 2540um 分辨率:0.01mil或0.1um或0.001mm,量程在0 - 200mil时; 0.1mil或1um或0.001mm,量程在0 - 300mil时。 精度 +/-0.02mil或+/-0.5um或+/-0.0005mm 平行度 +/-1.0um或更好 测头尺寸 直径4.3mm(薄膜)
直径15.9mm(纸张)
或针对其他材料的其他尺寸测头压力 4.0 - 8.0psi(0.562kg/cm²),薄膜
7.3psi(0.513kg/cm²),纸张
或针对其他材料的其他设置循环速率 20/分钟(40/分钟,可选),薄膜
20/分钟(12/分钟,可选),纸张
或针对其他材料的其他设置下落速率 1mm/sec,纸张 仪器尺寸(宽x长x高) 25 x 25 x 28 cm 标准配置 主机,标准厚度片,脚踏开关 选配件 打印机,质量控制软件(Quality Control Software) 符合标准 ASTM D 374,TAPPI T-411,BS 2782-6,Din 53370 -